Podstawy metrologii i inżynierii pomiarowej

Wydawnictwo Politechniki Poznańskiej

  • Rok wydania: 2010
Wysyłka:
Niedostępna
Sugerowana cena
36,80 PLN
Nasza cena
30,10 PLN



Tematyka książki dotyczy metrologii i inżynierii pomiarowej, które obejmują teorie i praktykę pomiarów, niezależnie od ich rodzaju i dokładności. Przedstawiono przykłady planowania i realizacji zadań pomiarowych. Zamieszczono wybrane elementy metrologii prawnej. Podano informacje dotyczące sposobu zapisu wielkości, wartości i jednostek zgodnie z zaleceniami SI. Omówiono specyfikę pozyskiwania sygnałów pomiarowych, sygnały optyczne i systemy optoelektroniczne oraz poszczególne etapy analizy niedokładności pomiarów.



Szczegóły

Tytuł: Podstawy metrologii i inżynierii pomiarowej
Autor: Cysewska - Sobusiak Anna
Wydawnictwo: Wydawnictwo Politechniki Poznańskiej
ISBN: 9788371439438
Rok wydania: 2010
Ilość stron: 172

Recenzje